Новости института метрологии имени Д.И.Менделеева
Делегация Шанхайского муниципального бюро по качеству и техническому надзору (КНР)
Посещение ВНИИМ делегацией Шанхайского муниципального бюро по качеству и техническому надзору (КНР)
28 августа 2015 года ВНИИМ посетила делегация Шанхайского муниципального бюро по качеству и техническому надзору Китайской Народной Республики (SMBQTS) во главе с г-ном Чжи Сяоэ, заместителем директора SMBQTS.
В состав делегации входили также - г-жа Чжан Лихон, начальник юридического отдела SMBQTS, - г-н Лю Чуньян, начальник отдела сертификационного надзора SMBQTS, - г-н Шу Йоньсянь, заместитель директора Шанхайского института измерительной и калибровочной техники, - г-жа Чень Йе, заместитель директора Шанхайского технологического института инспекции качества. Со стороны ВНИИМ во встрече участвовали: - Ю.А. Кустиков, заместитель директора по международной работе, - А.Г. Чуновкина, руководитель отдела метрологии, - А.Б. Дятлев, руководитель отдела международного сотрудничества по метрологии и взаимного признания, - Н.Д. Звягин, ученый секретарь и руководитель лаборатории законодательной метрологии.
В ходе визита делегации SMBQTS во ВНИИМ были обсуждены области профессиональной деятельности участников встречи и вопросы сотрудничества двух организаций. Делегация SMBQTS была ознакомлена с работой ряда лабораторий ВНИИМ (температуры, физико-химических измерений, длины), а также посетила Метрологический музей Росстандарта.
Руководитель китайской делегации поблагодарил за организацию и проведение приема, выразил заинтересованность членов делегации в налаживании сотрудничества и продолжении контактов путем переписки и взаимных визитов. Руководители ВНИИМ были приглашены нанести в SMBQTS ответный визит.
