Новости института метрологии имени Д.И.Менделеева

8 июня начала работу I Всероссийская научно-практическая конференция молодых ученых и специалистов «За нами будущее», приуроченная к 180-летию ВНИИМ им. Д.И. Менделеева (Росстандарт). Мероприятие, ориентированное  на  молодых учёных и специалистов, заинтересованных  в развитии и определении направлений научных и прикладных исследований в области технического регулирования и метрологии, собрало более 100 участников, представляющих организации системы Росстандарта, научные организации и промышленные предприятия. Конференция  организована ВНИИМ им. Д.И. Менделеева, Молодежным советом при генеральном директоре ФГУП «ВНИИМ им. Д.И. Менделеева» при поддержке  Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии (Росстандарт) и Комитета по науке и высшей школе Правительства Санкт-Петербурга.

Приветствуя собравшихся, первый заместитель председателя Комитета по науке и высшей школе Ирина Ганус отметила, что проведение подобной встречи в Санкт-Петербурге накануне большого исторического события – 350-летнего юбилея со дня  рождения Петра I, великого реформатора и почитателя науки – символично, поскольку молодые талантливые ученые развивают и воплощают научные идеи в практику. От имени Правительства Санкт-Петербурга Ирина Ганус пожелала конференции стать традиционной и занять видное место в мероприятиях Десятилетия науки и технологий. Генеральный директор ВНИИМ им. Д.И. Менделеева Антон Пронин, обращаясь к молодым коллегам, особенно отметил, что верность историческим традициям и развитие молодежных инициатив является залогом непрерывного творческого научного процесса, который не останавливался все годы существования института. Поздравляя Молодежный совет ВНИИМ со стартом конференции, начальник отдела законодательной метрологии Росстандарта Илья Ершов обратил внимание на растущую потребность экономики в специалистах-метрологах и пожелал участникам полной реализации профессиональных задач.

Тематика конференции охватывает такие направления, как обеспечение единства измерений, вопросы в области оценки и подтверждения соответствия, компетенции будущей метрологии, деятельность советов молодых ученых и специалистов. В двухдневной деловой программе представлено  более 40 докладов по различным областям измерений, созданию новых референтных методик, разработке новых типов стандартных образцов и т. д. В рамках конференции предусмотрены секционные заседания и постерная сессия. Лучшие работы из представленных на конференции будут опубликованы в журнале «Эталоны. Стандартные образцы».